
FPGA+ARM+GPU相結合,實(shí)用行頻提升2倍,提速不降檢測能力,實(shí)現30um針孔100%檢出,滿(mǎn)足隔膜極致安全要求。

高速頻閃光源,亮度差提升4倍,穩定檢出>10DN的缺陷,提升一倍檢測能力;單卷超10萬(wàn)+缺陷不卡頓。

依托LusterLVM視覺(jué)大模型,實(shí)現隔膜缺陷精細分類(lèi),支持30+類(lèi)缺陷分類(lèi),平均分類(lèi)準確率大于99%。

自動(dòng)判定成品卷等級,無(wú)需人工介入,準確率>99.9%;缺陷數據自動(dòng)分析和統計,實(shí)現質(zhì)量追溯和工藝改善。