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在半導體生產(chǎn)過(guò)程中,檢測是提升良率的關(guān)鍵環(huán)節,主要針對晶圓上的物理缺陷和圖案缺陷。光學(xué)檢測憑借非接觸、快速和低成本的優(yōu)勢成為主流方案,而光源的性能直接影響檢測效率與可靠性--高亮度、高穩定和多波長(cháng)選擇缺一不可。
傳統鹵素燈因壽命短(<1000小時(shí))、亮度不足、紫外波段覆蓋差且面臨環(huán)保淘汰,已無(wú)法滿(mǎn)足需求。Revox的SLG系列光纖光源以超高亮度、>2萬(wàn)小時(shí)超長(cháng)壽命和紫外到紅外的多波長(cháng)覆蓋,成為半導體、顯示及PCB檢測的理想選擇,助力客戶(hù)實(shí)現更高效、穩定的檢測流程。


短波長(cháng)、高精度(SLG-150V-UV系列)

經(jīng)濟之選(SLG-150V/165V系列)


多端口、分時(shí)頻閃(SLG-150HSP系列)

超亮、自由混光(SLG-450系列)


旗艦、超亮之選(SLG-600V2系列)


更強的穿透性(SLG-150V-NIR系列)

支持1024級調光,獨特校正功能,實(shí)現調光線(xiàn)性

環(huán)境適應性強,亮度波動(dòng)≤±3%

智能照度反饋,維持恒定光輸出

注:SLG-150/165系列需選配;SLG-450/SLG-600系列標配
可選或定制點(diǎn)、環(huán)、線(xiàn)、面等光波導

超亮白光搭配線(xiàn)掃TDI相機,顯著(zhù)縮短曝光時(shí)間,大幅提升晶圓掃描效率

紅外高穿透特性,直達內部缺陷

突破可見(jiàn)光極限,微痕精準成像

單工位實(shí)現3種光場(chǎng)成像,多類(lèi)缺陷檢出

2023-09-15
2020-05-08
2021-08-23
2023-06-21
2021-12-31