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產(chǎn)品介紹 | Revox高亮光纖光源點(diǎn)亮半導體檢測新未來(lái)

2025-07-16

在半導體生產(chǎn)過(guò)程中,檢測是提升良率的關(guān)鍵環(huán)節,主要針對晶圓上的物理缺陷和圖案缺陷。光學(xué)檢測憑借非接觸、快速和低成本的優(yōu)勢成為主流方案,而光源的性能直接影響檢測效率與可靠性--高亮度、高穩定和多波長(cháng)選擇缺一不可。 

傳統鹵素燈因壽命短(<1000小時(shí))、亮度不足、紫外波段覆蓋差且面臨環(huán)保淘汰,已無(wú)法滿(mǎn)足需求。Revox的SLG系列光纖光源以超高亮度、>2萬(wàn)小時(shí)超長(cháng)壽命和紫外到紅外的多波長(cháng)覆蓋,成為半導體、顯示及PCB檢測的理想選擇,助力客戶(hù)實(shí)現更高效、穩定的檢測流程。

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Revox產(chǎn)品推薦
01 紫外光纖光源



短波長(cháng)、高精度(SLG-150V-UV系列)

  • 非常適合替換汞燈
  • 高輻射亮度:4.9W@365nm、8.2W@385nm、7.6W@405nm
  • 除?3?種標準波長(cháng)外,還可定制11種紫外波長(cháng)
02 可見(jiàn)光光纖光源

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經(jīng)濟之選(SLG-150V/165V系列)

  • 照度>500萬(wàn)LUX,遠超250W金屬鹵化物光源


  • 波長(cháng)可選白色(CW/DW)R、G、B
  • 165V系列支持5孔電動(dòng)濾色片轉盤(pán)


多端口、分時(shí)頻閃(SLG-150HSP系列)

  • 支持3路獨立輸出,節省空間
  • 可自由選配顏色W、R、G、B
  • 支持高速頻閃結合高速切換功能,可輕松實(shí)現分時(shí)頻閃/光譜頻閃

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超亮、自由混光(SLG-450系列)

  • 超高照度超過(guò)2500萬(wàn)LUX
  • R、G、B混合比例可調、鎖定,單口輸出各種顏色光


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  • 支持常亮、頻閃模式,可設置8組亮度值


旗艦、超亮之選(SLG-600V2系列)

  • >5500萬(wàn)LUX超高照度,氙燈升級首選


  • 可選支持5孔位電動(dòng)濾色片轉盤(pán)
  • 1μs極速頻閃,高速切換任意設定的亮度
03 紅外光纖光源


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更強的穿透性(SLG-150V-NIR系列)

  • 740-1650nm全紅外波段覆蓋,11種波長(cháng)可選,完美替代鹵素光源
  • 超長(cháng)壽命可達3萬(wàn)小時(shí),遠超鹵素燈


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產(chǎn)品特性
01 良好的線(xiàn)性度


支持1024級調光,獨特校正功能,實(shí)現調光線(xiàn)性


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02 照明穩定


環(huán)境適應性強,亮度波動(dòng)≤±3%


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03 照度反饋系統


智能照度反饋,維持恒定光輸出



注:SLG-150/165系列需選配;SLG-450/SLG-600系列標配

04 豐富的光纖波導選擇


可選或定制點(diǎn)、環(huán)、線(xiàn)、面等光波導

典型應用
01 晶圓表面缺陷檢測--可見(jiàn)光光纖光源


超亮白光搭配線(xiàn)掃TDI相機,顯著(zhù)縮短曝光時(shí)間,大幅提升晶圓掃描效率


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02?晶圓內部缺陷檢測--紅外光纖光源

紅外高穿透特性,直達內部缺陷


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03 晶圓表面微小缺陷檢測--紫外光纖光源

突破可見(jiàn)光極限,微痕精準成像

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04 多缺陷檢測--分時(shí)頻閃成像

單工位實(shí)現3種光場(chǎng)成像,多類(lèi)缺陷檢出


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