2026年3月25-27日，備受矚目的中國機器視覺(jué)領(lǐng)域頂級盛會(huì )——VisionChina2026機器視覺(jué)展在上海盛大啟幕。本屆展會(huì )匯聚了數百家國際知名企業(yè)，集中展示了機器視覺(jué)行業(yè)的前沿技術(shù)與創(chuàng )新成果。
凌云光攜手JAI，以“特色棱鏡、紅外、紫外、線(xiàn)掃、面陣”五大產(chǎn)品線(xiàn)為核心，攜一系列軟硬件一體化解決方案精彩亮相，憑借深厚的技術(shù)底蘊與創(chuàng )新的應用方案，吸引了眾多行業(yè)專(zhuān)家、合作伙伴駐足交流，成為展會(huì )現場(chǎng)的焦點(diǎn)之一。

01 棱鏡成像?| 還原真實(shí)色彩，一機多能增效

作為本次展出的亮點(diǎn)之一，特色棱鏡成像產(chǎn)品線(xiàn)內置3個(gè)RGB芯片及棱鏡分光技術(shù)，實(shí)現了普通Bayer相機無(wú)法比擬的成像效果，并衍生出多個(gè)創(chuàng )新應用。

3C棱鏡真彩色缺陷檢測，現場(chǎng)JAI棱鏡相機與普通Bayer相機并排對比，差異一目了然。前者為每個(gè)像素點(diǎn)提供真實(shí)的RGB值，徹底消除邊緣偽彩，為細微顏色缺陷的精準檢測提供了可靠保障。

手機中框棱鏡外觀(guān)檢測方案則巧妙利用了JAI棱鏡相機三通道光譜響應串擾極低的特性。通過(guò)低角度紅光、高角度藍光及同軸綠光組合光源，實(shí)現“一次成像，三種檢測”—劃痕、裂紋、臟污同步檢出，大幅節約工位與時(shí)間成本。

塑料顆粒色選場(chǎng)景中，傳統三線(xiàn)彩色相機面對自由落體或振動(dòng)等變速運動(dòng)時(shí)，空間校正功能容易失效，導致圖像色散。而JAI的3CMOS棱鏡線(xiàn)陣相機，其三通道拍攝被測物處于同一光路，無(wú)需補償即可輸出無(wú)運動(dòng)色差的真彩色圖像，為不規則運動(dòng)物體的高精度色選提供了理想解決方案。

02 紅外成像|?JAI首次亮相，透視硅基世界

本次展會(huì )，JAI紅外成像方案在國內首次亮相，成為展位一大亮點(diǎn)。

針對半導體晶圓切割等關(guān)鍵工藝，紅外成像方案利用短波紅外波段對硅材質(zhì)的優(yōu)異穿透性，實(shí)現了“透視”檢測。該方案由短波紅外面陣相機、短波紅外遠心鏡頭及Revox短波紅外LED光纖照明光源組成。相機采用InGaAs芯片，覆蓋400-1700nm寬光譜，能夠穿透硅片表面，精準探測內部結構。這一特性使其在半導體激光劃片機的引導定位和隱裂檢測中發(fā)揮不可替代的作用，有效提升了加工精度與良率。

JAI全新Wave系列短波紅外相機共包含4款產(chǎn)品（線(xiàn)陣與面陣），分辨率覆蓋面陣130萬(wàn)至520萬(wàn)像素，線(xiàn)陣1K-2K。全系列搭載高性能InGaAs傳感器，光譜響應覆蓋400-1700nm，具備高量子效率、低噪聲、高穩定性等特點(diǎn)，兼容GigE Vision與Camera Link接口，易于系統集成，廣泛適用于半導體檢測、智能分選、激光光斑分析等工業(yè)檢測與科研場(chǎng)景。

03 紫外成像|?半導體晶圓缺陷檢測新利器

在半導體制造邁向更高精度的進(jìn)程中，紫外成像技術(shù)成為關(guān)鍵一環(huán)。

JAI紫外相機采用810萬(wàn)分辨率背照式芯片設計，最低響應波段可達200nm，在355nm關(guān)鍵波段的量子效率高達50%左右?；谌鹄袚?，波長(cháng)越短，光學(xué)分辨率越高，使其能清晰分辨傳統可見(jiàn)光方案難以察覺(jué)的微小缺陷。該方案已廣泛應用于半導體量檢測設備中。

04 線(xiàn)掃成像?|?高速高精，三大方案應對復雜場(chǎng)景

針對大幅寬、高速度的連續檢測需求，JAI線(xiàn)掃產(chǎn)品線(xiàn)帶來(lái)了三個(gè)各具特色的檢測方案。

半導體16K高速高分辨檢測，該方案由JAI 16K分辨率、5μm像元的高速線(xiàn)陣相機，搭配施耐德鏡頭與Revox高亮光源組成。277kHz的最高行頻與高達1億勒克斯的超高亮度光源相結合，專(zhuān)為顯示屏、半導體、PCB等行業(yè)的大幅寬、高精度檢測而設計，極大提升檢測效率。

鋰電黑白分時(shí)曝光檢測方案采用JAI雙線(xiàn)芯片線(xiàn)陣相機，通過(guò)輪循方式設置兩組不同曝光時(shí)間，一次掃描即可同時(shí)獲得高、低曝光兩組圖像，并在采集卡端實(shí)時(shí)拆分。這一設計極大提升了相機的動(dòng)態(tài)范圍，確保高反光與暗部細節信息均能清晰呈現。

PCB高速彩色分時(shí)頻閃檢測方案利用JAI 16K彩色線(xiàn)陣相機，配合分時(shí)頻閃光源組合。通過(guò)采集卡實(shí)現復雜的彩色多路頻閃圖像拆分，一次掃描即可檢出多種缺陷，為PCB等精密電子元件的檢測提供了極致高效的解決方案。

05 面陣成像?| 靈活高效，應對多元檢測場(chǎng)景

JAI面陣成像產(chǎn)品線(xiàn)帶來(lái)了多款高性能解決方案，滿(mǎn)足不同行業(yè)的多樣化需求。

食品分選棱鏡多光譜檢測方案中，JAI棱鏡多光譜相機將光路一分為二，分別由可見(jiàn)光與近紅外芯片同步成像。這一設計在獲取顏色信息的同時(shí)，補充了被測物的紅外光譜信息。在水果分選等應用中，不僅能識別表皮斑點(diǎn)，更能精準發(fā)現磕碰、暗傷等內部問(wèn)題，實(shí)現了內外兼修的品質(zhì)管控。

除此之外，凌云光還帶來(lái)了REVOX全系列光源、First Light超高速短波紅外面陣相機Cred2和大像元短波紅外面陣相機Cred one、Andor高靈敏單光子EMCCD相機、Mikrotron分體式高速相機、玦芯LDLS激光驅動(dòng)等離子體寬譜光源等高端產(chǎn)品及相關(guān)解決方案。

06 現場(chǎng)互動(dòng)，讓技術(shù)觸手可及

為了讓現場(chǎng)觀(guān)眾更深入地理解復雜的技術(shù)方案，凌云光&JAI在展位現場(chǎng)特別安排了每日兩場(chǎng)的專(zhuān)業(yè)技術(shù)講解，由資深工程師深入解讀產(chǎn)品原理與應用實(shí)踐。此外，展位還設置了展品互動(dòng)體驗、朋友圈打卡等活動(dòng)，讓與會(huì )者在感受前沿科技魅力的同時(shí)，還能收獲精美禮品，現場(chǎng)氣氛熱烈。

3月25-27日
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歡迎蒞臨凌云光&JAI展位
上海新國際博覽中心，W5館5313